1. Продукция  /  
  2. Ультразвуковой контроль  /  
  3. Иммерсионные системы контроля авиационных дисков  /  
  4. Система акустической микроскопии EPSILON

Система акустической микроскопии EPSILON

Система Epsilon является стандартной системой иммерсионного контроля от Tecnatom.

Установка состоит из 3-х моторизованных осей (X,Y,Z) и регулируемой вручную головки (φ1 и φ2). Такая конфигурация позволяет управлять образцами типа стальных пластин с размерами 50 мм x 50 мм x 6 мм. Цель состоит в том, чтобы обнаружить очень маленькие дефекты (около 50 мкм).

Высокоточные моторизованные оси X, Y и Z системы Epsilon позволяют достичь высокопрецизионной точности позиционирования датчика – 10 мкм. Сменные высокочастотные фокусированные преобразователи предназначены для поиска дефектов от 50 мкм до 0,1 мм в тонкослойных структурах.

Специальная высокочастотная ультразвуковая электроника SONIA позволяет работать со спектром частот от 4 до 200 МГц, и снабжена оптоволоконными проводами для снижения электромагнитных шумов. В комплект поставки входит многофункциональное ПО с интуитивно понятным интерфейсом для сбора и анализа УЗ данных.

Система акустической микроскопии EPSILON
Система акустической микроскопии EPSILON
Система акустической микроскопии EPSILON

Пример выявления микронных дефектов (от 50 мкм):

  • Контроль плиты  60 x 130мм с преобразователем  50МГц. Поверхность образца должна быть с шероховатостью  Ra ˂ 3.2, частота оцифровки 1 ГГц
  • ПДО глубина 0,4мм – 0,6мм – 0,8мм и 1мм.

Контроль плиты должен делаться в 3 этапа  (Один C скан на каждый диапазон глубины с различным путем УЗ луча по воде):

  • C скан n°1 : Определение ПДО глубина  0,4мм – 0,6 мм
  • C скан n°2 : Определение ПДО глубина 0,6мм – 0,8 мм
  • C скан n°3 : Определение ПДО глубина 0,8мм – 1 мм

Области применения:

  • Контроль электронных компонентов (пайка, микросварка)
  • Контроль тонких изделий из металлических сплавов
  • Исследование материалов из тонких слоёв - металлов, полимеров, керамики, композитов в лабораторных условиях.